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產(chǎn)品詳細(xì)頁紅外屏點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)儀
簡(jiǎn)要描述:紅外屏點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)儀是集運(yùn)動(dòng)控制、數(shù)據(jù)采集、分析統(tǒng)計(jì)技術(shù)于一體的高科技產(chǎn)品,其核心是電腦控制之[觸摸屏點(diǎn)擊劃線控制系統(tǒng)]程序。本產(chǎn)品具有功能強(qiáng)、編程簡(jiǎn)單、操作方便、價(jià)格低等優(yōu)點(diǎn)。適用于CTP 觸摸屏、紅外屏、整機(jī)制造商(手機(jī)、平板電腦等)產(chǎn)品研發(fā)、產(chǎn)品檢測(cè)用。
- 產(chǎn)品型號(hào):XD-6411B
- 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間:2024-08-02
- 訪 問 量:2181
產(chǎn)品介紹
紅外屏點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)儀,紅外屏綜合測(cè)試儀,紅外屏測(cè)試儀,電容屏測(cè)試儀主要參數(shù):
型號(hào) | XD-6411B |
測(cè)試樣品 | CTP 屏1個(gè)或2個(gè)(可以單獨(dú)測(cè),也可以兩塊屏輪流測(cè)試) |
X 軸移動(dòng)范圍 | 0~480mm(約19") |
Y 軸移動(dòng)范圍 | 0~300mm(約12") |
Z 軸移動(dòng)范圍 | 0~50mm |
定位精度控制 | ±0.001mm(±0.00004") |
X-Y 軸重復(fù)定位精度 | ≤0.01mm(0.0004") |
X-Y 軸移動(dòng)速度 | 0~500mm/sec |
Z 軸移動(dòng)速度 | 0~200mm/sec |
Z 軸重復(fù)定位精度 | ±0.02mm |
一體式砝碼荷重 | 30g、150g、250g |
測(cè)頭直徑 | Ø3~Ø15mm可更換 |
模擬&數(shù)字供電電壓范圍 | DC1.2V~5V |
模擬&數(shù)字供電電壓精度 | ±0.02V |
功耗電流檢測(cè)范圍 | 0~500mA |
功耗電源檢測(cè)精度 | ±1mW |
數(shù)據(jù)采集頻率 | 100kHz、200kHz、400kHz可設(shè) |
通訊協(xié)議 | I2C總線、串口、USB(客戶提供通訊協(xié)議,我們制做通訊板采集數(shù)據(jù)) |
主機(jī)體積 | W950×D1050×H1520mm |
重量 | 約350Kg |
電源 | 1∮ AC220V 10A |
紅外屏點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)儀,紅外屏綜合測(cè)試儀,紅外屏測(cè)試儀,電容屏測(cè)試儀儀器特點(diǎn):
1. 客戶提供觸摸數(shù)控IC 之工作通信協(xié)議,即可采集、分析、統(tǒng)計(jì)紅外觸摸屏之點(diǎn)擊精度、劃線精度、靈敏度、坐標(biāo)抖動(dòng)、報(bào)點(diǎn)頻率、響應(yīng)時(shí)間等性能,客戶提供觸摸數(shù)控IC 之底層通信協(xié)議,即可完成信噪比測(cè)試測(cè)試,兼容多家品牌IC,如Cypress(賽普拉斯)、Atmel(愛*)、敦泰(Focaltech)、melfas、pixcir、Elan、leadis、SSL、Avago、seni、Hiamx、Synopsys、匯頂科技等;
2. 滿足CTP 屏精度測(cè)試、抖動(dòng)測(cè)試、線性度測(cè)試、靈敏度測(cè)試、長(zhǎng)時(shí)間劃線測(cè)試、長(zhǎng)時(shí)間點(diǎn)擊測(cè)試;
3. 運(yùn)動(dòng)軌跡及測(cè)試:方便的坐標(biāo)找點(diǎn)功能,只需于[教導(dǎo)程序]上任取三點(diǎn)可生成圓、三角等運(yùn)動(dòng)軌跡,任取二點(diǎn)可劃線,任取四點(diǎn)劃矩形,并可根據(jù)測(cè)試屏規(guī)格存儲(chǔ)運(yùn)動(dòng)軌跡便于下次調(diào)用;
4. 強(qiáng)大的存儲(chǔ)功能: 由于測(cè)試文件存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)內(nèi),不限組數(shù),測(cè)試數(shù)據(jù),方便調(diào)用;
5. 可實(shí)時(shí)顯示當(dāng)前X、Y、Z 軸坐標(biāo)值,電機(jī)驅(qū)動(dòng)速度、實(shí)時(shí)位置變化等;
6. 強(qiáng)大的測(cè)試軟件:軟件根據(jù)觸摸屏常用的測(cè)試方法,預(yù)置了多種測(cè)試方法,客戶只需要輸入觸摸屏的尺寸W&L,選擇測(cè)試方法(如精度測(cè)試、線性度測(cè)試等)即可測(cè)試,無需每次編輯;
7. 機(jī)臺(tái)采用高剛性鋁制表面經(jīng)陽極氧化處理,富有質(zhì)感;
8. XYZ 三軸采用日本松下伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng),日本THK 精密滾珠螺桿+雙THK 線性導(dǎo)軌傳動(dòng),高速低噪聲,耐久使用;定位精準(zhǔn),重復(fù)精度≤0.01mm 為業(yè)內(nèi)zui高;
9. 軟件精準(zhǔn)定位功能:可通過X1、X2、Y2 三個(gè)點(diǎn)精準(zhǔn)定位試樣,一次設(shè)定保存后,同規(guī)格樣品無需再次校對(duì)定位,效率更率,精度更高;
10. 雙工位輪流測(cè)試式設(shè)計(jì),可選用真空吸附CTP 屏,加快了測(cè)試速度,節(jié)省換屏和夾裝時(shí)間;
11. 設(shè)備結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理,充分考慮到人體工程易操作性,布局合理,將干擾源降到zui低。
,紅外屏綜合測(cè)試儀,紅外屏測(cè)試儀,電容屏測(cè)試儀測(cè)試項(xiàng)目:
1. 滿足CTP 屏廠產(chǎn)線測(cè)試---更換不同通信協(xié)議端口,可快速實(shí)現(xiàn)不同IC 之屏測(cè)試;滿足手機(jī)、平板電腦等整機(jī)測(cè)試,通過WIFI 傳輸測(cè)試數(shù)據(jù)給電腦軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)采集、分析、統(tǒng)計(jì),并生成PDF測(cè)試報(bào)表;
2. 點(diǎn)擊精度測(cè)試---根據(jù)客戶不同要求,在測(cè)試區(qū)域內(nèi)任意位置設(shè)置多點(diǎn)點(diǎn)擊,測(cè)試每個(gè)點(diǎn)的位置偏差,并支持兩點(diǎn)同時(shí)點(diǎn)擊,真實(shí)地檢測(cè)出產(chǎn)品的處理能力及精準(zhǔn)度;
3. 劃線線性度測(cè)試---支持平行線、垂直線、對(duì)角線、圓弧等多種圖像來檢測(cè)產(chǎn)品的線性偏差。可在測(cè)試區(qū)域內(nèi)任意設(shè)置線距、線數(shù)及弧度的大小,并支持兩點(diǎn)同時(shí)劃線、兩點(diǎn)劃圓等多種測(cè)試方式,達(dá)到更精確的體現(xiàn)產(chǎn)品的特性;
4. 靈敏度測(cè)試---可設(shè)定不同的劃線軌跡,實(shí)現(xiàn)接觸式劃線或非接觸式劃線,觸筆離產(chǎn)品的高度可按設(shè)定調(diào)節(jié),并能自動(dòng)找出觸控高度;
5. 坐標(biāo)抖動(dòng)測(cè)試---在測(cè)試區(qū)域內(nèi)可設(shè)置多種測(cè)試圖形,并對(duì)每個(gè)點(diǎn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行多次讀取,并計(jì)算出偏差值;
6. 劃線可靠性測(cè)試---在測(cè)試區(qū)域內(nèi)設(shè)置多種測(cè)試圖形,并按特定的時(shí)間及順序進(jìn)行劃線,判定在測(cè)試過程中是否有斷線現(xiàn)象;
7. 信噪比測(cè)試---通過對(duì)產(chǎn)品多點(diǎn)點(diǎn)擊測(cè)試,采集IC 采集的信號(hào)值并計(jì)算信噪比(需IC 協(xié)議支持);
8. 報(bào)點(diǎn)頻率測(cè)試---在測(cè)試區(qū)域中心位置觸控產(chǎn)品,多次采集數(shù)據(jù),計(jì)算出產(chǎn)品發(fā)出數(shù)據(jù)的頻率;
9. 響應(yīng)時(shí)間測(cè)試---在測(cè)試區(qū)域內(nèi)任意位置點(diǎn)擊,通過控制觸控并采集計(jì)算出產(chǎn)品的響應(yīng)時(shí)間,支持多點(diǎn)響應(yīng)時(shí)間測(cè)試;
10. 功耗測(cè)試---通過高精度毫瓦級(jí)功耗測(cè)試模塊測(cè)試出產(chǎn)品的靜態(tài)及動(dòng)態(tài)功耗(需IC 協(xié)議支持);
11. 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)庫功能,能快速的對(duì)采集回來的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析統(tǒng)計(jì),實(shí)現(xiàn)圖形與數(shù)據(jù)鏈接,自動(dòng)生成各種測(cè)試報(bào)告,此報(bào)告格式可能要根據(jù)不同客戶要求改動(dòng);
12. 軟件防呆能力、權(quán)限設(shè)置、一鍵式測(cè)試,操作簡(jiǎn)易,測(cè)試完畢可根據(jù)設(shè)定指標(biāo)(偏差值)自動(dòng)判定PASS OR FAIL。